單項(xiàng)選擇題單晶斜探頭的折射角越大，有效晶片尺寸越（）。
A.大
B.小
C.不變
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于單圓晶片平直探頭在水浸法檢測(cè)時(shí)，有效晶片直徑近似為壓電晶片實(shí)際直徑的（）。
A.0.9
B.0.95
C.0.97
D.1.0
2.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)中，聚焦探頭的橫向分辨力好是因?yàn)樗穆暿睆剑ǎ?/a>
A.大
B.小
C.沒(méi)影響
D.大于50°
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題