多項選擇題垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。
A.縱向掃查
B.直線掃查
C.橫向掃查
D.格子掃查
E.點(diǎn)掃查
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1.多項選擇題在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。
A.靈敏度
B.超聲波的強(qiáng)弱
C.聲束軸線的方向
D.一次波的聲程
E.二次波的探測范圍
2.多項選擇題探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。
A.半擴(kuò)散角減小
B.近場區(qū)長度增加
C.波束指向性好
D.半擴(kuò)散角增大
E.超聲波能量集中
3.多項選擇題超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。
A.直探頭
B.縱波斜探頭
C.橫波斜探頭
D.表面波探頭
E.雙晶探頭等
4.多項選擇題在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)，可提高對缺陷的定位精度。
A.聲束變寬
B.聲束變窄
C.聲能集中
D.分辨率高
E.分辨率低
5.多項選擇題由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。
A.大小
B.類型
C.形狀
D.取向
E.尺寸
最新試題
探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。
題型：單項選擇題
探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。
題型：多項選擇題
核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。
題型：單項選擇題
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。
題型：多項選擇題
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異常回波可采?。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對。
題型：多項選擇題
60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）
題型：單項選擇題
金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。
題型：單項選擇題
探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）
題型：多項選擇題
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
題型：單項選擇題
探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對受檢工件的（）做好記錄。
題型：多項選擇題