A.側(cè)面校對(duì)法
B.二次波校對(duì)波
C.通用儀器校對(duì)法
D.0度校對(duì)法
E.校對(duì)探頭直校法
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A.側(cè)磨形成的橫向裂紋
B.擦傷下核傷
C.焊補(bǔ)層下核傷
D.剝離掉塊下核傷
E.魚鱗形成的傷損
A.保證探頭主聲束能掃查到焊筋部位
B.保證探頭主聲束能掃查到焊縫中心
C.保證對(duì)軌底邊緣能得到全面的掃查
D.最大探測(cè)距離的折射角
E.最大探測(cè)距的反射角
A.縱向掃查
B.直線掃查
C.橫向掃查
D.格子掃查
E.點(diǎn)掃查
A.靈敏度
B.超聲波的強(qiáng)弱
C.聲束軸線的方向
D.一次波的聲程
E.二次波的探測(cè)范圍
A.半擴(kuò)散角減小
B.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加
C.波束指向性好
D.半擴(kuò)散角增大
E.超聲波能量集中
最新試題
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí)，執(zhí)機(jī)人員必須“站?？床ā痹诒３炙砍渥愕那闆r下，探傷靈敏度應(yīng)提高（）。
探傷中對(duì)工件材料的（）有一定的要求。
探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。
用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm，焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè)，應(yīng)選擇K值為（）的探頭合適。
采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤(rùn)性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
當(dāng)脫碳層或顯微組織初檢結(jié)果不合格時(shí)，應(yīng)在（）兩支鋼軌上取樣復(fù)驗(yàn)，如兩個(gè)復(fù)驗(yàn)樣的復(fù)驗(yàn)結(jié)果都符合要求，則該批其余的鋼軌可以驗(yàn)收。
鋼軌曲線上股由于接觸疲勞強(qiáng)度不足，形成軌頭表面剝離，一般剝離層深度為（）左右。
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?；夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。
探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）