A.超聲檢測(cè)儀通過(guò)產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上，激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)發(fā)射超聲波
B.超聲檢測(cè)儀可將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大，通過(guò)一定形式顯示出來(lái)
C.超聲檢測(cè)儀可以得到被探測(cè)工件表面及內(nèi)部有無(wú)缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測(cè)儀是超聲檢測(cè)的主體設(shè)備
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A.用來(lái)描述距離、波幅和缺陷當(dāng)量之間的關(guān)系曲線
B.實(shí)用AVG曲線可以理論計(jì)算得到或者由通用AVG曲線得到
C.實(shí)用AVG曲線只適用于特定探頭
D.實(shí)用AVG曲線中要注明探頭的尺寸和頻率
A.表示回波聲程、幅度（dB）和缺陷大小之間關(guān)系的曲線
B.用于缺陷定量和靈敏度調(diào)整
C.聲程以探頭的近場(chǎng)區(qū)為單位，缺陷以探頭的直徑為單位，幅值以始波高度為參考值
D.適用于全部聲程
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.18dB
A.增大12dB
B.增大9dB
C.增大6dB
D.增大3dB
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.9dB
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。