A.聲速和單程傳輸時(shí)間的乘積
B.聲速和傳輸時(shí)間的乘積
C.聲速和2倍傳輸時(shí)間的乘積
D.需要根據(jù)工件形狀確定
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A.工件內(nèi)有小缺陷
B.工件內(nèi)無(wú)缺陷
C.工件內(nèi)有大缺陷
D.工件內(nèi)有傾斜的或小而密集的缺陷
A.工件內(nèi)有小缺陷
B.工件內(nèi)無(wú)缺陷
C.工件內(nèi)有大缺陷
D.無(wú)法確定
A.工件表面粗糙度對(duì)聲耦合有一定的影響
B.對(duì)于同一耦合劑,表面越粗糙,耦合效果越差
C.聲阻抗高的耦合劑,隨粗糙度的變差,耦合效果降低得更快
D.以上都對(duì)
A.耦合層的厚度對(duì)耦合沒(méi)有影響
B.在接觸法檢測(cè)中,耦合層厚度越薄,耦合效果越好
C.在液浸法檢測(cè)中,考慮耦合層厚度的因素,在使用聚焦探頭時(shí)主要考慮的是使耦合層厚度滿(mǎn)足多次重合法
D.在液浸法檢測(cè)中,考慮耦合層厚度的因素,在使用平探頭時(shí)主要考慮的是探頭焦距
A.機(jī)油
B.甘油
C.水
D.漿糊
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是影響缺陷定量的因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。