A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
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A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
A.波幅將增加或降低為原波高的1倍；
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍；
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍；
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
儀器水平線性影響（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。