填空題能把兩個(gè)相鄰缺陷回波在屏幕上分辨出來的能力稱為（）。
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1.單項(xiàng)選擇題超聲波檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
3.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時(shí)若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
4.單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中，出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是（）
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
最新試題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題