A.改變縱波入射角度以得到要求的橫波折射角度
B.通過電脈沖控制改變獨(dú)立晶片的角度
C.用計(jì)算機(jī)控制同步電路
D.改變發(fā)射和接收延時(shí)間隔調(diào)節(jié)角度
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A.探頭壓電晶片是一個(gè)整體
B.通過改變延時(shí)間隔，可以改變聲束焦距長(zhǎng)度
C.不適用于復(fù)雜工件的檢測(cè)
D.不能進(jìn)行扇形掃描
A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法
B.直射波法、斜射波法和衍射時(shí)差法
C.一次波法、一次反射法和板波法
D.以上都對(duì)
A.與波速無(wú)關(guān)
B.與工件厚度有關(guān)
C.與探頭中心間距有關(guān)
D.與檢測(cè)聲波頻率有關(guān)
A.平行于探測(cè)面的缺陷
B.與探測(cè)面傾斜的缺陷
C.垂直于探測(cè)面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測(cè)的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
單探頭法容易檢出（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。