A.顯示器的刷新頻率
B.采樣頻率
C.存儲深度或字長
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.便于信號的存儲、記錄和再現(xiàn)
B.顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管
C.便于小型化
D.以上都是
A.對晶片的振動起阻尼作用
B.對晶片起支撐作用
C.吸收晶片背面發(fā)射的超聲波
D.以上都是
A.作為探測時的基準,并為評價工件中的缺陷與已知反射體進行比較;
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具;
C.為檢出某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證;
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷提供保證。
A.這些反射體的回波脈沖寬度是不一樣的
B.考慮到不同材質的衰減因素;
C.可以隨工件情況不同以便得到一個能模擬某一特定尺寸的信號
D.以上都是
A.測定探頭特性
B.確定不連續(xù)性尺寸及位置
C.評估材料的聲傳播特性
D.以上都是
最新試題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。