A.便于信號的存儲、記錄和再現(xiàn)
B.顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管
C.便于小型化
D.以上都是
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A.對晶片的振動起阻尼作用
B.對晶片起支撐作用
C.吸收晶片背面發(fā)射的超聲波
D.以上都是
A.作為探測時的基準(zhǔn),并為評價工件中的缺陷與已知反射體進(jìn)行比較;
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具;
C.為檢出某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證;
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷提供保證。
A.這些反射體的回波脈沖寬度是不一樣的
B.考慮到不同材質(zhì)的衰減因素;
C.可以隨工件情況不同以便得到一個能模擬某一特定尺寸的信號
D.以上都是
A.測定探頭特性
B.確定不連續(xù)性尺寸及位置
C.評估材料的聲傳播特性
D.以上都是
A.粗晶材料中散射信號與脈沖信號之比
B.人工反射體信號與雜波信號之比
C.儀器與探頭組合后引起的雜波信號與示波屏垂直刻度的滿幅度之比
D.以上都是
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
儀器水平線性影響()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
單探頭法容易檢出()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。