縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。