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多項選擇題
JB/T4730.4-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：工件的剩磁應(yīng)不大于：（）
A.240A/m
B.480A/m
C.0.3mT
D.3G
多項選擇題
JB/T4730.4-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)涂層厚度均勻不超過0.05mm，且不影響檢測結(jié)果時，經(jīng)合同各方同意，可以帶涂層進(jìn)行磁粉檢測?！敖?jīng)合同各方同意”這一規(guī)定的主要含義是：（）
A.委托方有知情權(quán)、批準(zhǔn)權(quán)和監(jiān)督權(quán)
B.有利于委托方和檢測方之間財務(wù)結(jié)算
C.檢測方不得隨意和擅自帶涂層進(jìn)行磁粉檢測
D.執(zhí)行該條款要慎重
多項選擇題
按JB/T4730.2-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)被檢工件的材料為低合金鋼時，不可以使用（）材料制做的像質(zhì)計。
A.銅
B.低碳鋼
C.奧氏體不銹鋼
D.鎳
多項選擇題
以下哪些是影響低合金鋼焊接熱影響區(qū)淬硬的因素：（）
A.鋼材化學(xué)成分
B.焊接化學(xué)成分
C.焊接規(guī)范
D.焊接時工件溫度
多項選擇題
下面不屬于面積性缺陷的是：（）
A.氣孔
B.夾渣
C.裂紋
D.夾鎢
多項選擇題
根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，以下對檢測設(shè)備要求的敘述，正確的是：（）
A.檢測用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進(jìn)行一次檢定（校準(zhǔn)），并有記錄可查
B.黑度計至少每6個月校驗一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時對曝光曲線進(jìn)行校驗或重新制作
D.對使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗一次
多項選擇題
下述術(shù)語定義符合JB/T4730.1－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是：（）
A.公稱厚度：受檢工件名義厚度，不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距：沿射線束中心測定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷：長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管：外直徑D0小于或等于100mm的管子
多項選擇題
在下列敘述中，與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定符合的是：（）
A.雙壁單影透照像質(zhì)計放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質(zhì)計放置在膠片側(cè)，但必須進(jìn)行對比試驗
D.當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時，至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質(zhì)計
多項選擇題
關(guān)于曝光量的選擇，以下說法正確的是：（）
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時，總的曝光時間應(yīng)不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相，當(dāng)焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
多項選擇題
JB/T4730.5-2005規(guī)定，黑光燈的電源電壓波動大于10%時應(yīng)安裝電源穩(wěn)壓器，主要考慮是：（）
A.電源電壓下降超過10%時，黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時，對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命

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磁粉檢測時，如果磁極間距變化，將使下列因素發(fā)生變化的是：（）

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JB/T4730.4-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：工件的剩磁應(yīng)不大于：（）

按JB/T4730.2-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)被檢工件的材料為低合金鋼時，不可以使用（）材料制做的像質(zhì)計。

以下哪些是影響低合金鋼焊接熱影響區(qū)淬硬的因素：（）

下面不屬于面積性缺陷的是：（）

根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，以下對檢測設(shè)備要求的敘述，正確的是：（）

下述術(shù)語定義符合JB/T4730.1－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是：（）

在下列敘述中，與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定符合的是：（）

關(guān)于曝光量的選擇，以下說法正確的是：（）

JB/T4730.5-2005規(guī)定，黑光燈的電源電壓波動大于10%時應(yīng)安裝電源穩(wěn)壓器，主要考慮是：（）

磁粉檢測時，如果磁極間距變化，將使下列因素發(fā)生變化的是：（）

你可能感興趣的試題

JB/T4730.4-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：工件的剩磁應(yīng)不大于：（）

按JB/T4730.2-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)被檢工件的材料為低合金鋼時，不可以使用（）材料制做的像質(zhì)計。

以下哪些是影響低合金鋼焊接熱影響區(qū)淬硬的因素：（）

下面不屬于面積性缺陷的是：（）

根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，以下對檢測設(shè)備要求的敘述，正確的是：（）

下述術(shù)語定義符合JB/T4730.1－2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是：（）

在下列敘述中，與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定符合的是：（）

關(guān)于曝光量的選擇，以下說法正確的是：（）

JB/T4730.5-2005規(guī)定，黑光燈的電源電壓波動大于10%時應(yīng)安裝電源穩(wěn)壓器，主要考慮是：（）

磁粉檢測時，如果磁極間距變化，將使下列因素發(fā)生變化的是：（）

按JB/T4730.2-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)被檢工件的材料為低合金鋼時，不可以使用（）材料制做的像質(zhì)計。

根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，以下對檢測設(shè)備要求的敘述，正確的是：（）

在下列敘述中，與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定符合的是：（）

關(guān)于曝光量的選擇，以下說法正確的是：（）

JB/T4730.5-2005規(guī)定，黑光燈的電源電壓波動大于10%時應(yīng)安裝電源穩(wěn)壓器，主要考慮是：（）