A.反射波高隨粗糙度的增大而增加
B.無影響
C.反射波高隨粗糙度的增大而下降
D.以上A和C都可能
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A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B.區(qū)分開相鄰的缺陷
C.改善聲束指向性
D.以上全部
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對
A.脈沖反射法
B.衍射時差法
C.穿透法和共振法
D.以上都是
A.平底孔
B.V形槽
C.橫通孔
D.柱孔
A.其聲速與被檢工件基本一致
B.材料中沒有超過φ2mm平底孔的缺陷
C.材料衰減不大且均勻
D.以上都是
最新試題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。