當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。