單項(xiàng)選擇題在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，由于存在著（），所以探傷靈敏度會(huì)明顯偏低。

A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時(shí)（）。

A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬

2.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到（）。

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對(duì)

3.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)（）。

A、探頭耦合面幾何尺寸來(lái)決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題采用雙晶直探頭檢驗(yàn)大口徑“管座角焊縫”時(shí)，調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用（）。

A、底波計(jì)算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線(xiàn)法
D、以上都可以

5.單項(xiàng)選擇題直接接觸法探傷可以使用（）。

A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以

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