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XPS只能檢測(cè)元素種類(lèi),無(wú)法標(biāo)定元素含量。
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AFM通常用來(lái)觀測(cè)樣品表面形貌。
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TEM觀測(cè)與SEM相同,對(duì)樣品厚度沒(méi)有要求。
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