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在測(cè)試某臺(tái)超聲波檢測(cè)儀的垂直線(xiàn)性時(shí),得到如下一組衰減量與回波高度的對(duì)應(yīng)數(shù)值,則該儀器的垂直線(xiàn)性誤差()。
A.0.9%
B.1.2%
C.2.4%
D.3.5%
A.垂直線(xiàn)性
B.水平線(xiàn)性
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.分辨力
A.顯示屏水平刻度的百分比誤差
B.顯示屏垂直刻度(FSH)的百分比誤差
C.分貝值
D.以上都不是
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最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()是影響缺陷定量的因素。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。