A.測量磁導(dǎo)率的變化
B.測量電導(dǎo)率的變化
C.測量不導(dǎo)電復(fù)層的厚度
D.確定合適的檢驗頻率
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A.減少提離的變化
B.減少探頭的磨損
C.減少操作人員的疲勞
D.消除邊緣效應(yīng)
A.試樣的合金成分
B.試樣的熱處理
C.試樣的溫度
D.上述的三項
A.γ射線
B.交變磁場
C.壓電力
D.上述的任一個
A.電導(dǎo)率
B.尺寸
C.磁導(dǎo)率
D.上述三項
A.0.95(95%)
B.1.75(175%)
C.0.50(50%)
D.0.25(25%)
最新試題
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
X射線檢驗人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。