A.缺陷實際徑向深度總是小于顯示值
B.顯示的水平距離總是大于實際弧長
C.顯示值與實際值之差,隨顯示值的增加而減小
D.以上都正確
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A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
A.曲面探傷時可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護膜探頭
D.以上都對
A.直探頭探傷法
B.脈沖反射法
C.斜探頭探傷法
D.穿透法
最新試題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
儀器水平線性影響()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。