A.橫向分辨力降低
B.聲束擴散角增大
C.近場長度增大
D.指向性變鈍
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A.應(yīng)減小阻尼塊
B.應(yīng)使用大直徑晶片
C.應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵
D.換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大
A.Q降低,靈敏度提高
B.Q值增大,分辨力提高
C.Q值增大,盲區(qū)增大
D.Q值降低,分辨力提高
A.儀器分辨力提高
B.儀器分辨力降低,但超聲強度增大
C.聲波穿透力降低
D.對試驗無影響
A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。