A.發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
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A.1―2個(gè)
B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間
D.以上都是
A、聲束細(xì),每次掃查探測區(qū)域小,頻率低
B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷,通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)
D、以上都是
A、靈敏度高
B、橫向分辨率高
C、縱向分辨率高
D、探測粗晶材料時(shí)信噪比高
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。