（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產品技術要求或有關標準來確定。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）是影響缺陷定量的因素。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

儀器水平線性影響（）。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。