A、12db
B、9db
C、6db
D、3db
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A、6db
B、12db
C、24db
D、18db
A、用第一零輻射角表示
B、為指向角的一般
C、與指向角相同
D、是主聲束輻射錐角之半
A、2.5P20Z
B、3P14Z
C、4P20Z
D、5P14Z
A、近場(chǎng)長(zhǎng)度
B、未擴(kuò)散區(qū)
C、主聲束
D、超聲場(chǎng)
A、聲束邊緣聲壓較大
B、聲束中心聲壓較大
C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣
D、聲壓與聲束寬度成正比
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。