單項選擇題光刻工藝是利用感光膠感光后抗腐蝕的特性在半導(dǎo)體晶片表面的掩膜層上的工藝()

A.刻制圖形
B.繪制圖形
C.制作圖形


您可能感興趣的試卷

最新試題

金屬剝離工藝是以具有一定圖形的光致抗蝕劑膜為掩膜,帶膠蒸發(fā)或濺射所需的金屬,然后在去除光致抗蝕劑膜的同時,把膠膜上的金屬一起去除干凈。()

題型:判斷題

厚膜元件材料的粉末顆粒越小、表面形狀謦復(fù)雜,比表面積就越大,則表面自由能也就越高,對燒結(jié)越有利。()

題型:判斷題

低溫淀積二氧化硅生長溫度低、制作方便,但膜不夠致密,耐潮性和抗離子沾污能力較差。()

題型:判斷題

絲網(wǎng)印刷膜的厚度不隨著刮板移動速度的增加而減小。()

題型:判斷題

設(shè)備、試劑、氣瓶等所有物品不需經(jīng)嚴(yán)格清潔處理,可直接進(jìn)入凈化區(qū)。()

題型:判斷題

干法腐蝕清潔、干凈、無脫膠現(xiàn)象、圖形精度和分辨率高。()

題型:判斷題

值稱為共發(fā)射極電流放大系數(shù),是晶體管的一個重要參數(shù),也是檢驗晶體管經(jīng)過硼、砷摻雜后的兩個pn結(jié)質(zhì)量優(yōu)劣的重要標(biāo)志。()

題型:判斷題

集成電容主要有哪幾種結(jié)構(gòu)?

題型:問答題

拋光片的電學(xué)參數(shù)包括電阻率,載流子濃度,遷移率,直徑、厚度、主參考面等。()

題型:判斷題

點缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復(fù)合體。()

題型:判斷題