多項(xiàng)選擇題硅外延片的應(yīng)用包括()。

A.二極管和三極管
B.電力電子器件
C.大規(guī)模集成電路
D.超大規(guī)模集成電路


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1.多項(xiàng)選擇題硅外延生長(zhǎng)工藝包括()。

A.襯底制備
B.原位HCl腐蝕
C.生長(zhǎng)溫度,生長(zhǎng)壓力,生長(zhǎng)速度
D.尾氣的處理

2.單項(xiàng)選擇題位錯(cuò)的形成原因是()。

A.位錯(cuò)就是由彈性形變?cè)斐傻?br /> B.位錯(cuò)就是由重力造成的
C.位錯(cuò)就是由范性形變?cè)斐傻?br /> D.以上答案都不對(duì)

3.單項(xiàng)選擇題下列晶體管結(jié)構(gòu)中,在晶體管輸出電流很大時(shí)常使用的是:()

A、單基極條圖形
B、雙基極條圖形
C、基極和集電極引線孔都是馬蹄形結(jié)構(gòu)
D、梳狀結(jié)構(gòu)

4.單項(xiàng)選擇題腐蝕二氧化硅的水溶液一般是用()

A、鹽酸
B、硫酸
C、硝酸
D、氫氟酸

5.單項(xiàng)選擇題說(shuō)明構(gòu)成每個(gè)單元所需的基本門(mén)和基本單元的集成電路設(shè)計(jì)過(guò)程叫():

A、邏輯設(shè)計(jì)
B、物理設(shè)計(jì)
C、電路設(shè)計(jì)
D、系統(tǒng)設(shè)計(jì)

最新試題

厚膜元件材料的粉末顆粒越小、表面形狀謦復(fù)雜,比表面積就越大,則表面自由能也就越高,對(duì)燒結(jié)越有利。()

題型:判斷題

片狀源擴(kuò)散具有設(shè)備簡(jiǎn)單,操作方便,晶片缺陷少,均勻性、重復(fù)性和表面質(zhì)量都較好,適于批量生產(chǎn),應(yīng)用越來(lái)越普遍。()

題型:判斷題

退火處理能使金絲和硅鋁絲的抗斷強(qiáng)度下降。()

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門(mén)陣列的基本結(jié)構(gòu)形式有兩種:一種是晶體管陣列,一種是門(mén)陣列()

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拋光片的電學(xué)參數(shù)包括電阻率,載流子濃度,遷移率,直徑、厚度、主參考面等。()

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液相外延的原理是飽和溶液隨著溫度的降低產(chǎn)生過(guò)飽和結(jié)晶。()

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干法腐蝕清潔、干凈、無(wú)脫膠現(xiàn)象、圖形精度和分辨率高。()

題型:判斷題

金屬剝離工藝是以具有一定圖形的光致抗蝕劑膜為掩膜,帶膠蒸發(fā)或?yàn)R射所需的金屬,然后在去除光致抗蝕劑膜的同時(shí),把膠膜上的金屬一起去除干凈。()

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離子源是產(chǎn)生離子的裝置。()

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點(diǎn)缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復(fù)合體。()

題型:判斷題