利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

單探頭法容易檢出（）。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

儀器水平線性影響（）。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。