A、頻率;
B、波長(zhǎng);
C、速度;
D、脈沖長(zhǎng)度。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、縱波;
B、壓縮波;
C、橫波;
D、表面波。
A、脈沖寬度;
B、脈沖振幅;
C、脈沖形狀;
D、反射。
A、連續(xù)波;
B、直流峰值電壓;
C、超聲波;
D、電脈沖或脈沖。
A、入射角;
B、折射角;
C、缺陷取向;
D、上述三種都不對(duì)。
A、角度調(diào)整;
B、散射;
C、折射;
D、擴(kuò)散。
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。