（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。