問答題簡述A型試塊、B型試塊和C型試塊的主要用途。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
題型:判斷題
提出有效磁導率的是下列哪位科學家()
題型:單項選擇題
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責,對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應予以配合。
題型:判斷題
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。
題型:判斷題
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。
題型:判斷題
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
題型:判斷題
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即()。
題型:單項選擇題
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
題型:判斷題
X射線探傷室應建立健全輻射安全管理制度及應急預案。
題型:判斷題
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
題型:判斷題