單項(xiàng)選擇題一臺(tái)新出廠的的超聲波探傷儀,其水平線性誤差應(yīng)為()

A、>6分貝
B、>2%
C、<6分貝
D、≤2%


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題一臺(tái)經(jīng)校準(zhǔn)好的超聲波探傷儀,其垂直線性誤差應(yīng)為()

A、>8%
B、≤8%
C、20分貝
D、6分貝

2.單項(xiàng)選擇題儀器抑制旋鈕的功能是()

A、只抑制雜波而對(duì)缺陷波無影響 
B、限制檢波后的信號(hào)輸出幅度,同時(shí)抑制雜波和缺陷波 
C、可以改善儀器的垂直線性 
D、可以提高儀器的動(dòng)態(tài)范圍

3.單項(xiàng)選擇題()頻率的探頭具有最薄的石英晶片

A、1兆赫
B、5兆赫
C、10兆赫
D、25兆赫

4.單項(xiàng)選擇題()頻率的探頭可獲得最佳分辨力

A、1兆赫
B、5兆赫
C、10兆赫
D、25兆赫

5.單項(xiàng)選擇題()探頭具有較長的近場長度

A、1兆赫,Φ14毫米
B、2.5兆赫,Φ14毫米
C、1兆赫,Φ20毫米
D、2.5兆赫,Φ30毫米

最新試題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:單項(xiàng)選擇題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()

題型:單項(xiàng)選擇題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題