圖中,探頭B在進(jìn)行()
A.分辨力測(cè)定
B.聲速測(cè)定
C.距離測(cè)定
D.靈敏度測(cè)定
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圖中探頭A在進(jìn)行()
A.驗(yàn)證試塊的圓度
B.靈敏度調(diào)節(jié)
C.分辨力測(cè)定
D.探頭入射點(diǎn)測(cè)定
A.放在
B.不放在
C.將表面波探頭放大鋼板上
D.將蘭姆波探頭放在
A.鍛造缺陷一般與鍛造纖維方向平行
B.探測(cè)面通常選擇與鍛造纖維方向平行的面
C.鍛件尺寸大,縱波探傷穿透力強(qiáng)
D.以上三種原因都是
A.放大器
B.接收器
C.脈沖發(fā)生器
D.同步發(fā)生器
A.產(chǎn)生發(fā)射脈沖,加在探頭上產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)。
B.產(chǎn)生鋸齒波信號(hào)。
C.產(chǎn)生脈沖信號(hào),用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作。
D.加在示波管陽極上,加速電子
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
儀器水平線性影響()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。