圖中探頭A在進(jìn)行（）
A.驗(yàn)證試塊的圓度
B.靈敏度調(diào)節(jié)
C.分辨力測(cè)定
D.探頭入射點(diǎn)測(cè)定
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.放在
B.不放在
C.將表面波探頭放大鋼板上
D.將蘭姆波探頭放在
A.鍛造缺陷一般與鍛造纖維方向平行
B.探測(cè)面通常選擇與鍛造纖維方向平行的面
C.鍛件尺寸大，縱波探傷穿透力強(qiáng)
D.以上三種原因都是
A.放大器
B.接收器
C.脈沖發(fā)生器
D.同步發(fā)生器
A.產(chǎn)生發(fā)射脈沖，加在探頭上產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)。
B.產(chǎn)生鋸齒波信號(hào)。
C.產(chǎn)生脈沖信號(hào)，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作。
D.加在示波管陽(yáng)極上，加速電子
A.檢驗(yàn)儀器和探頭的組合性能
B.確定靈敏度
C.缺陷定位
D.缺陷定量
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。