A.缺陷回波高度
B.底面回波高度
C.有缺陷處的底面回波高度
D.以上都是
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A.平方面
B.方截面
C.正方體
D.以上都不是
A.≥30mm
B.≥25mm
C.≥20mm
D.≥15mm
A.JB3963-85
B.JB4730-2005
C.GB/T6402-91
D.以上都是
A.接觸
B.水浸
C.反射
D.以上都是
A.清楚表面松的氧化皮
B.去除所有的氧化皮
C.表面粗加工(上車床)
D.用堿腐蝕其表面
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
儀器水平線性影響()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。