檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。