A.磁致伸縮原理
B.壓電的原理
C.波型轉換原理
D.以上都不是
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A.使熒屏上不含底面反射信號
B.使平行于入射面的缺陷難于檢出
C.通常表明金屬中存在多孔信號
D.降低檢測的穿透力
A.近場效應
B.衰減
C.檢測系統(tǒng)的回復時間
D.折射
A.確定缺陷的深度
B.評價表面缺陷
C.作為評價線型缺陷的標準
D.校正距離-幅度變化
A.與2mm平底孔的面積相同
B.較2mm平底孔要大
C.略小于2mm平底孔
D.約為2mm平底孔面積的一半
A.工件中的氣孔
B.掃描線
C.標記模式
D.電干擾
最新試題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。