針對(duì)是否對(duì)無(wú)效數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)試，可以將等價(jià)類測(cè)試分為（）。
1）標(biāo)準(zhǔn)（一般）等價(jià)類測(cè)試
2）健壯等價(jià)類測(cè)試
3）弱等價(jià)類測(cè)試
4）強(qiáng)等價(jià)類測(cè)試
A.3）4）
B.1）2）
C.1）3）
D.2）4）
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A.未知
B.反比
C.相等
D.正比
A.測(cè)試由樁模塊控制
B.最上面的模塊最先測(cè)試
C.父單元用測(cè)試過(guò)的子單元測(cè)試
D.包含樹(shù)的深度優(yōu)先或廣度優(yōu)先遍歷過(guò)程
A.DD-路徑圖
B.控制流圖
C.MM-路徑圖
D.模塊調(diào)用圖
A.提高程序的執(zhí)行速度可以提高程序的效率
B.降低程序占用的存儲(chǔ)空間可以提高程序的效率
C.源程序的效率與詳細(xì)設(shè)計(jì)階段確定的算法的效率無(wú)關(guān)
D.好的程序設(shè)計(jì)可以提高效率
A.需求分析
B.概要設(shè)計(jì)
C.詳細(xì)設(shè)計(jì)
D.單元測(cè)試完成
最新試題
使用QTP軟件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，下面對(duì)其中應(yīng)用描述錯(cuò)誤的是（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無(wú)法比。
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是（）。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
在（）中，只需要考慮所有可能的執(zhí)行路徑，對(duì)于不可能執(zhí)行的路徑，是不需要考慮的。
敏捷開(kāi)發(fā)模型不適用于大型開(kāi)發(fā)項(xiàng)目。
（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。