A.弱覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.全覆蓋
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.文檔覆蓋
B.路徑覆蓋
C.靜態(tài)覆蓋
D.判定覆蓋
A.代碼走查
B.插樁
C.等價(jià)類(lèi)劃分
D.邏輯驅(qū)動(dòng)
A.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)上層模塊采取自頂向下測(cè)試，使之能較早地顯示系統(tǒng)的總體輪廓。
B.混合的漸增式測(cè)試在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用較少。
C.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)某些關(guān)鍵模塊或子系統(tǒng)采用由底向上組裝和測(cè)試的方法。
D.混合的漸增式測(cè)試是自頂向下的漸增式測(cè)試和自底向上的漸增式測(cè)試的合并。
A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
A.黑盒測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.易用性測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
最新試題
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
敏捷開(kāi)發(fā)中用戶(hù)故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
H模型沒(méi)能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）
（）僅僅依賴(lài)于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
軟件評(píng)審結(jié)論不包括（）
對(duì)軟件過(guò)程中存在的各類(lèi)文檔格式、標(biāo)準(zhǔn)和描述進(jìn)行評(píng)審，描述的是下面哪一種評(píng)審？（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。