A.可靠度
B.不可靠度
C.失效概率密度
D.失效率
E.失效時(shí)間
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A.平均壽命
B.可靠壽命
C.中位壽命
D.特征壽命
E.高位壽命
A.失效模式分析
B.失效判據(jù)
C.設(shè)計(jì)變量和參數(shù)分析
D.強(qiáng)度、應(yīng)力計(jì)算
E.可靠度計(jì)算
A.反映單元之間的功能關(guān)系
B.為計(jì)算系統(tǒng)的可靠度提供數(shù)學(xué)模型
C.能夠提高系統(tǒng)可靠性
D.能夠降低系統(tǒng)時(shí)效率
E.減少組裝環(huán)節(jié)
A.目標(biāo)函數(shù)
B.約束條件
C.產(chǎn)品數(shù)量
D.產(chǎn)品質(zhì)量
E.工藝流程
A.燃料供給系統(tǒng)
B.燃料壓送系統(tǒng)
C.燃料噴射系統(tǒng)
D.驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)
E.調(diào)速系統(tǒng)
最新試題
鹽霧測(cè)試后能否判定測(cè)試結(jié)果是否合格?
當(dāng)DFMEA某一失效模式對(duì)應(yīng)的RPN值小于100時(shí),一定不需要進(jìn)一步分析。
評(píng)估機(jī)械測(cè)試時(shí),相同模具,外殼材料不同,不同材料的樣品都需要評(píng)估測(cè)試。
請(qǐng)簡(jiǎn)述非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品的區(qū)別。
因某客戶(hù)的喜好,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí),產(chǎn)品外觀(guān)模具應(yīng)越小越好。
為什么當(dāng)金屬外殼不是連續(xù)導(dǎo)電時(shí),在做靜電放電試驗(yàn)時(shí)往往會(huì)出問(wèn)題?
通過(guò)電容耦合產(chǎn)生的干擾電壓與騷擾源的頻率、騷擾電壓、騷擾電路與被干擾電路之間的耦合電容、被干擾電路對(duì)地阻抗成正比。為減小電場(chǎng)耦合的影響,應(yīng)怎么辦?
電子元器件降額設(shè)計(jì)可以延緩其參數(shù)退化,增加工作壽命,提高使用可靠性。
電路Layout設(shè)計(jì)時(shí),晶振越靠近主芯片越好。
請(qǐng)簡(jiǎn)述下3C認(rèn)證的流程和注意事項(xiàng)。