問(wèn)答題為什么當(dāng)金屬外殼不是連續(xù)導(dǎo)電時(shí)，在做靜電放電試驗(yàn)時(shí)往往會(huì)出問(wèn)題？
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2.問(wèn)答題屏蔽磁場(chǎng)輻射源時(shí)要注意什么問(wèn)題？
3.問(wèn)答題在電磁兼容領(lǐng)域，為什么總是用分貝（dB）的單位描述？
4.問(wèn)答題論述與PCB板布局與布線有關(guān)的電磁兼容技術(shù)。
5.單項(xiàng)選擇題GB 17626.3標(biāo)準(zhǔn)主載波（Key Carrier）射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試中，所采用的調(diào)制方式是（）
A.1kHz正弦波調(diào)制，調(diào)制幅度80%
B.2Hz正弦波調(diào)制，調(diào)制幅度80%
C.方波調(diào)制，占空比50%，重復(fù)頻率200Hz
D.方波調(diào)制，占空比1/8，重復(fù)頻率217Hz
最新試題
請(qǐng)列出GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)的三種試驗(yàn)類型并說(shuō)明他們之間的區(qū)別（試驗(yàn)樣品類型、過(guò)程是否通電、選用氣流速度三方面）。
題型：?jiǎn)柎痤}
當(dāng)DFMEA某一失效模式對(duì)應(yīng)的RPN值小于100時(shí)，一定不需要進(jìn)一步分析。
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什么是HALT？有哪些測(cè)試步驟？
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為什么數(shù)字電路的地線和電源線上經(jīng)常會(huì)有很大的噪聲電壓？怎樣減小這些噪聲電壓？
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請(qǐng)簡(jiǎn)述下TNV電路的分類。
題型：?jiǎn)柎痤}
電子元器件降額設(shè)計(jì)可以延緩其參數(shù)退化，增加工作壽命，提高使用可靠性。
題型：判斷題
論述與PCB板布局與布線有關(guān)的電磁兼容技術(shù)。
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感性耦合干擾的抑制辦法有哪些？
題型：?jiǎn)柎痤}
產(chǎn)品Layout時(shí)無(wú)需考慮熱設(shè)計(jì)問(wèn)題。
題型：判斷題
為什么當(dāng)金屬外殼不是連續(xù)導(dǎo)電時(shí)，在做靜電放電試驗(yàn)時(shí)往往會(huì)出問(wèn)題？
題型：?jiǎn)柎痤}