單項選擇題單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出（）
A.近場干擾
B.材質衰減影響
C.存在盲區(qū)
D.聲耦合效率低
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項選擇題與透射法相比，以下選項哪種是反射法的優(yōu)點（）
A.靈敏度高
B.盲區(qū)小
C.適用于衰減較大的材料
D.以上都是
2.單項選擇題與透射法相比，以下哪種是反射法的優(yōu)點（）
A.盲區(qū)小
B.可對缺陷精確定位
C.適用于薄板件
D.以上都是
3.單項選擇題與透射法相比，以下哪些選項是反射法的缺點（）
A.不利于檢測衰減較大的材料
B.不利于缺陷的精確定位
C.不利于小缺陷的檢測
D.以上都是
4.單項選擇題與反射法相比，以下四個選項哪種是透射法的優(yōu)點（）
A.可對缺陷精確定位
B.檢測靈敏度高
C.適用于薄板件
D.以上都是
5.單項選擇題與反射法相比，以下哪種是透射法的優(yōu)點（）
A.可對缺陷精確定位
B.盲區(qū)小
C.操作方便
D.以上都是
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項選擇題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
題型：單項選擇題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項選擇題