A.靈敏度高
B.盲區(qū)小
C.適用于衰減較大的材料
D.以上都是
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A.盲區(qū)小
B.可對(duì)缺陷精確定位
C.適用于薄板件
D.以上都是
A.不利于檢測(cè)衰減較大的材料
B.不利于缺陷的精確定位
C.不利于小缺陷的檢測(cè)
D.以上都是
A.可對(duì)缺陷精確定位
B.檢測(cè)靈敏度高
C.適用于薄板件
D.以上都是
A.可對(duì)缺陷精確定位
B.盲區(qū)小
C.操作方便
D.以上都是
A.不利于缺陷的精確定位
B.檢測(cè)靈敏度低
C.不適用于檢測(cè)形狀復(fù)雜的零件
D.以上都是
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
單探頭法容易檢出()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()是影響缺陷定量的因素。
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。