A.水
B.機(jī)油
C.空氣
D.以上都可以
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A.使第二次界面波落在零件一次底波之后
B.使聲波在水中的衰減盡可能的小
C.使上表面的盲區(qū)盡可能的小
D.以上都是
A.在零件中形成橢圓型聲場(chǎng)
B.在時(shí)基線上不會(huì)出現(xiàn)底面回波
C.在上下表面可能會(huì)產(chǎn)生反射位移
D.以上都是
A.必須確認(rèn)探頭折射角度和入射點(diǎn)
B.零件越薄時(shí),使用的橫波角度也相應(yīng)越大
C.有三種時(shí)間基線的調(diào)整方法
D.以上都是
A.相同頻率下,橫波比縱波的分辨力低
B.相同頻率下,橫波比縱波的穿透力低
C.與縱波一樣,橫波聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)也存在干擾
D.與縱波一樣,側(cè)壁對(duì)橫波反射也會(huì)產(chǎn)生影響
A.在端角或棱邊會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的反射回波
B.聲束以小角度斜入射至底面時(shí)反射聲束將產(chǎn)生位移
C.與縱波相比,橫波對(duì)表面變化不敏感
D.以上都是
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
儀器水平線性影響()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
單探頭法容易檢出()。