A.表面分辨力
B.探測靈敏度
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
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A.表面分辨力
B.探測靈敏度
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
A.調(diào)整回波在顯示屏上的幅度
B.調(diào)整聲程
C.改變時間電路輸出的鋸齒波電壓的斜率
D.B和C
A.掃描電路
B.發(fā)射電路
C.動態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)
A.信噪比較低的探頭
B.寬頻帶探頭
C.分辨力較高的探頭
D.以上都對
A.壓電效應(yīng)
B.振動效應(yīng)
C.電磁效應(yīng)
D.轉(zhuǎn)換效應(yīng)
最新試題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。