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半導體測試技術(shù)問答題每日一練(2019.09.23)

來源：考試資料網(wǎng)

1.問答題靜電對電子器件的危害。

參考答案：⑴靜電吸附灰塵，改變線路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命。
⑵因電場或電流破壞元件的絕緣或?qū)w，使元件不能工作（...

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2.問答題Open-short串行靜態(tài)測試方法優(yōu)缺點。

參考答案：優(yōu)點
當一個失效（failure）發(fā)生時，其準確的電壓測量值會被數(shù)據(jù)記錄（datalog）顯示出來，不管它是O...

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3.問答題基本注意事項。

參考答案：⑴安全：生產(chǎn)加工過程中不需要注意防火、防電、防事故，保證人身、設(shè)備和器件的安全。
⑵保密：每個公司都有自己的核...

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4.問答題IIH/IIL集體測試法優(yōu)缺點。

參考答案：優(yōu)點：能在短時間內(nèi)迅速進行漏電流的測試。
缺點：
1.測試對象有限，只能運用于高輸入阻抗的器件；

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5.問答題模擬電路的測試

參考答案：

模擬集成電路的最大特點在于其輸入、輸出信號是連續(xù)變化的，這就決定了模擬集成電路測試的復(fù)雜性，和多樣性。

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