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問答題
【簡(jiǎn)答題】IIH/IIL集體測(cè)試法優(yōu)缺點(diǎn)。
答案：
優(yōu)點(diǎn)：能在短時(shí)間內(nèi)迅速進(jìn)行漏電流的測(cè)試。
缺點(diǎn)：
1.測(cè)試對(duì)象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
缺點(diǎn)：
1.測(cè)試對(duì)象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
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問答題
【簡(jiǎn)答題】IIL串行測(cè)試方法。
答案：
1、電源端施加VDDmax；
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
3、對(duì)待測(cè)管腳施加低電...
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
3、對(duì)待測(cè)管腳施加低電...
問答題
【簡(jiǎn)答題】VOH/IOH靜態(tài)測(cè)試方法。
答案：
1、器件的所有輸出管腳預(yù)置為邏輯高狀態(tài)；
2、對(duì)待測(cè)的輸出管腳施加spec上指定的電流IOH（拉電流）；
2、對(duì)待測(cè)的輸出管腳施加spec上指定的電流IOH（拉電流）；
