材料分析測試技術(shù)章節(jié)練習(xí)(2020.06.04)

來源：考試資料網(wǎng)
參考答案：1、制備待測樣品通過一定實(shí)驗(yàn)方法獲得試樣的X射線衍射花樣。
2、由衍射花樣計(jì)算各衍射線對(duì)應(yīng)面網(wǎng)的d值和強(qiáng)度。<...
參考答案：掃描電子顯微鏡的成像原理和透射電子顯微鏡完全不同。掃描電子顯微鏡不是通過電磁透鏡放大成像的原理，掃描電子顯微鏡的成像原理...
參考答案：原子內(nèi)層電子的躍遷
5.名詞解釋X-射線的衰減
參考答案：當(dāng)X射線穿過物質(zhì)時(shí)，由于受到散射，光電效應(yīng)等的影響，強(qiáng)度會(huì)減弱，這種現(xiàn)象稱為X-射線的吸收。
參考答案：具有磁矩的原子核；具有未成對(duì)電子的物質(zhì)
參考答案：差示掃描量熱法（DSC）與差熱分析方法（DTA）在應(yīng)用上基本相同，但由于DSC克服了DTA以ΔT間接表達(dá)物質(zhì)熱效應(yīng)的缺陷...