圖是橫波檢測(cè)示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示2.0跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
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圖是橫波檢測(cè)示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示1.5跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測(cè)條件下,哪個(gè)波形圖表示無(wú)缺陷()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測(cè)條件下,哪個(gè)波形圖可能存在較小缺陷?()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。