圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中，哪個(gè)表示1.0跨距（）
A.A
B.B
C.C
D.D
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圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖表示無(wú)缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖可能存在較小缺陷？（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖可能存在較大缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測(cè)示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
儀器水平線性影響（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。