以下代碼描述了4位到2位的解碼器模塊DEC(具體見以下注釋)。請使用VerilogHDL描述語言寫出能滿足下列條件的測試平臺(tái)模塊testbench:
1.DEC作為testbench的子模塊,所有輸入信號(hào)都由testbench生成并供給;
2.輸入信號(hào)din必須隨機(jī)生成;
3.必須在testbench內(nèi)部自動(dòng)判定DEC輸出信號(hào)dout正確與非;
4.能夠?qū)⒉ㄐ伪4嬷廖募?br />
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.DIP
B.QFP
C.BGA
D.CSP
A.光刻膠涂覆
B.曝光
C.顯影
D.腐蝕
A.布線分全局布線與詳細(xì)布線兩個(gè)階段,決定布線途徑
B.當(dāng)某個(gè)布線變?yōu)椴豢赡軙r(shí),確定并拆除成為其障礙物的布線群,進(jìn)行重新布線,使其不再成為其它布線的障礙
C.基于階層的布局設(shè)計(jì)包括自頂向下的布圖規(guī)劃和自下向上的模塊布局
D.自頂向下的布圖規(guī)劃包括對階層模塊進(jìn)行面積預(yù)估、確定aspect比、放置模塊及模塊間時(shí)間制約的分割
A.是一種高速計(jì)算近似值的算法
B.是在實(shí)際可行的時(shí)間內(nèi)計(jì)算布局布線最優(yōu)解的算法
C.是求局部最優(yōu)解的算法
D.為了讓近似值接近最優(yōu)解,有必要改變執(zhí)行條件(初解、控制參數(shù))多次進(jìn)行重新計(jì)算
A.DRC
B.LVS
C.時(shí)序驗(yàn)證
D.信號(hào)完全性
最新試題
引線鍵合的目的是將金線鍵合在晶片、框架或基板上。
因?yàn)镼FP封裝的可靠性高,且其封裝外形尺寸較小,寄生參數(shù)減小,故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。
引線鍵合的常用技術(shù)有()。
鍵合常用的劈刀形狀,下列說法正確的是()。
倒裝芯片的連接方式有()。
電子封裝是指對電路芯片進(jìn)行包裝,進(jìn)而保護(hù)電路芯片,以免其受到外界環(huán)境影響的包裝。
塑封料的機(jī)械性能包括的模量有()。
根據(jù)焊點(diǎn)的形狀,引線鍵合有兩種形式,分別是()。
制造和封裝工藝過程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()。
QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對設(shè)定的電性能無法調(diào)整,而BGA可以通過芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。