A.振動系統(tǒng)在外力作用下發(fā)生的振動稱為受迫振動
B.物體的受迫振動達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，其振動的頻率與物體的固有頻率有關(guān)
C.當(dāng)周期性策動力的頻率和物體的固有頻率不等時(shí)振幅達(dá)到最大，即產(chǎn)生共振
D.探頭向工件輻射超聲波時(shí)，其頻譜中的最大幅值點(diǎn)的頻率就是探頭的共振頻率
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A.簡諧振動是無阻尼振動，是振動的常見狀態(tài)
B.因受到阻力而使振幅不斷減小的振動叫做阻尼振動
C.阻尼振動就是能量不斷減少的振動
D.阻尼振動有摩擦阻尼和輻射阻尼兩種
A.機(jī)械振動是物體或質(zhì)點(diǎn)圍繞其平衡位置所做的往復(fù)運(yùn)動
B.一切能夠發(fā)出聲音的物體在發(fā)出聲音時(shí)所做的運(yùn)動都是振動
C.彈簧振子的運(yùn)動、擊鼓后的鼓膜的起伏運(yùn)動等都是常見的機(jī)械振動
D.超聲波波源的運(yùn)動也屬于機(jī)械振動
A.0.25N
B.0.5N
C.0.75N
D.N
A.8.3mm
B.42.4mm
C.84.03mm
D.138.98mm
A.缺陷的位置
B.缺陷的方向
C.區(qū)分缺陷波與假信號
D.以上選項(xiàng)都是
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
單探頭法容易檢出（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。